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簡要描述：【無錫冠亞】半導體控溫解決方案主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
產(chǎn)品型號：LTS-202廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-01-16訪 問 量：1460| 品牌 | 冠亞制冷 | 冷卻方式 | 水冷式 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 10萬-50萬 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
| 儀器種類 | 一體式 | 應用領域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設備、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，
?泛應?于半導體、LED、LCD、太陽能光伏等領域。
半導體專溫控設備
射流式?低溫沖擊測試機
半導體專用溫控設備chiller
Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)
Chiller直冷型
循環(huán)風控溫裝置
半導體?低溫測試設備
電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源
射流式高低溫沖擊測試機
快速溫變控溫卡盤
數(shù)據(jù)中心液冷解決方案
| 型號 | FLT-002 | FLT-003 | FLT-004 | FLT-006 | FLT-008 | FLT-010 | FLT-015 |
| FLT-002W | FLT-003W | FLT-004W | FLT-006W | FLT-008W | FLT-010W | FLT-015W | |
| 溫度范圍 | 5℃～40℃ | ||||||
| 控溫精度 | ±0.1℃ | ||||||
| 流量控制 | 10～25L/min 5bar max | 15～45L/min 6bar max | 25～75L/min 6bar max | ||||
| 制冷量at10℃ | 6kw | 8kw | 10kw | 15 kw | 20kw | 25kw | 40kw |
| 內(nèi)循環(huán)液容積 | 4L | 5L | 6L | 8L | 10L | 12L | 20L |
| 膨脹罐容積 | 10L | 10L | 15L | 15L | 20L | 25L | 35L |
| 制冷劑 | R410A | ||||||
| 載冷劑 | 硅油、氟化液、乙二醇水溶液、DI等 （DI溫度需要控制10℃以上） | ||||||
| 進出接口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 |
| 冷卻水口 | ZG1/2 | ZG1/2 | ZG3/4 | ZG1 | ZG1 | ZG1 | ZG1 1/8 |
| 冷卻水流量at20℃ | 1.5m3/h | 2m3/h | 2.5m3/h | 4m3/h | 4.5m3/h | 5.6m3/h | 9m3/h |
| 電源380V | 3.5kW | 4kW | 5.5kW | 7kW | 9.5kW | 12kW | 16kW |
| 溫度擴展 | 通過增加電加熱器，擴展-25℃～80℃ | ||||||
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
半導體集成電路Chiller 元器件測試用設備
在半導體制造過程中，冠亞制冷的冷卻設備chiller的作用大家有目共睹。本文將介紹介質(zhì)刻蝕雙通道chiller調(diào)試過程中的注意事項。
一、準備工作
在進行介質(zhì)刻蝕雙通道chiller調(diào)試之前，先要確保所有準備工作已經(jīng)完成。這包括：
1、確認介質(zhì)刻蝕雙通道chiller安裝正確：檢查設備的安裝位置、管道連接等是否符合設計要求。
2、電源連接：確保電源連接穩(wěn)定，并按照介質(zhì)刻蝕雙通道chiller規(guī)格書的要求設置電源參數(shù)。
3、閥門和儀表校準：檢查所有的閥門和儀表是否已經(jīng)校準，確保測量準確。
二、調(diào)試過程
1、啟動順序：按照介質(zhì)刻蝕雙通道chiller手冊的啟動順序進行啟動，確保每個步驟都正確無誤。
2、參數(shù)設置：根據(jù)介質(zhì)刻蝕雙通道chiller規(guī)格書的要求，設置合適的參數(shù)，如冷卻水流量、溫度等。
3、運行測試：在介質(zhì)刻蝕雙通道chiller運行過程中，密切關注各項參數(shù)的變化，確保介質(zhì)刻蝕雙通道chiller正常運行。
4、故障排查：如果介質(zhì)刻蝕雙通道chiller出現(xiàn)故障，根據(jù)故障現(xiàn)象進行排查，找出故障原因并進行修復。
